• 15:15-15:40
  • Zaal 20
  • Conditioning; Cryogenics, Cleanliness and Vacuum

Contamination control in de high tech supply chain: de reinheidsprestaties van morgen

  • Cees van Duijn
  • OMNEO Systems BV

In deze lezing geeft Cees aan welke grote uitdagingen er liggen op het gebied van cleanliness en hoe deze uitdagingen aangepakt kunnen worden om de steeds hogere reinheidseisen het hoofd te kunnen beiden.

Enkele onderwerpen die ter sprake komen zijn:
• Vlekvorming en dergelijke
• Deeltjesmeting zonder UV
• Contaminatie control per productiestap
• Reiniging van grote producten

Motto: Als onze prestaties op het gebied van reinheid morgen beter moeten zijn, dan moeten we niet wachten tot morgen.